及時發(fā)現(xiàn)并解決古董分析儀故障才能確保其準(zhǔn)確性
2024-11-21
古董分析儀利用光譜分析、X射線熒光（XRF）等技術(shù)，對古董及藝術(shù)品進(jìn)行非破壞性檢測，分析其成分、年代及制作工藝。它能夠精確測量古董中各種元素的含量，如鈉、鎂、鋁、鈣、鐵等，通過比對數(shù)據(jù)庫中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，判斷古董的真?zhèn)巍⒛甏爱a(chǎn)地。古董分析儀在長時間使用過程中，可能會出現(xiàn)故障。以下是...
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X射線熒光光譜儀分析測定碳酸鹽巖石中主次痕量元素
X射線熒光光譜儀EDX9000B分析測定碳酸鹽巖石中主次痕量元素采用粉末樣品壓片制樣,碳酸鹽巖石標(biāo)樣及人工合成標(biāo)樣為標(biāo)準(zhǔn),使用經(jīng)驗系數(shù)法及散射線內(nèi)標(biāo)法校正元素的吸收增強(qiáng)效應(yīng),用X射線光譜儀EDX9000B對碳酸鹽巖石試樣中的Na,Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Ga,Rb,Sr,Y,Zr,Nb,Ba,Pb,La,Ce和Th等30種主次痕量元素進(jìn)行測定,其分析結(jié)果與標(biāo)樣標(biāo)準(zhǔn)值(或化學(xué)法值)符合較好,方法的精密度...
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XRF熒光光譜儀玻璃融片法測定鐵精粉中主次量元素
XRF熒光光譜儀EDX9000B玻璃融片法測定鐵精粉中主次量元素試驗TXRF玻璃融片法測定鐵礦石中主次量元素.試樣以Li2B4O7為熔劑,以NaNO3為氧化劑,經(jīng)過高溫熔融制成玻璃融片,用XRF法進(jìn)行定量分析.經(jīng)高溫熔融后,試樣中的金屬元素以四硼酸鹽,非金屬元素以高價含氧酸鹽的形式進(jìn)入玻璃融片中,粒度效應(yīng)的影響基本消除,礦物效應(yīng),基體效應(yīng)的影響也大大降低.工作曲線的繪制采用經(jīng)驗系數(shù)法.大量試驗結(jié)果表明,該方法分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠.樣品制備鐵礦石研磨粉碎：首先，把塊狀或顆粒狀地耐火...
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XRF能量色散熒光光譜儀在巖心樣品快速分析中的應(yīng)用
XRF能量色散熒光光譜儀Compass300在巖心樣品快速分析中的應(yīng)用XRF技術(shù)作為一種新興的分析檢測技術(shù),經(jīng)過科學(xué)工作者一百多年的探索研究,現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展成熟,廣泛應(yīng)用于冶金,地質(zhì),有色,建材,商檢,環(huán)保,衛(wèi)生等各個領(lǐng)域.通過使用便攜式Compass300能量色散熒光光譜儀在野外現(xiàn)場作業(yè)中的應(yīng)用,制定了實驗方案對巖心樣品進(jìn)行快速分析.考慮到野外現(xiàn)場巖心測量的復(fù)雜性以及能量色散X熒光分析儀在野外現(xiàn)場使用的特點,故本次野外應(yīng)用選取的是便攜式能量色散X熒光分析儀Compass300...
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真空臺式EDX9000Bplus礦產(chǎn)分析儀測定工業(yè)硅中鐵鋁鈣
硅產(chǎn)業(yè)是我國有色金屬行業(yè)的重要組成部分，近年來一直受到國內(nèi)外廣泛關(guān)注。工業(yè)硅作為硅鋁及硅基合金、有機(jī)硅、多晶硅的基礎(chǔ)原材料，其下游應(yīng)用已經(jīng)滲透到信息產(chǎn)業(yè)、新能源等相關(guān)行業(yè)中，在我國經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展中具有特殊的地位，是新能源、新材料產(chǎn)業(yè)發(fā)展*的重要材料，展現(xiàn)了廣闊的應(yīng)用前景。工業(yè)硅的細(xì)分產(chǎn)品主要分為多晶硅、有機(jī)硅和合金硅；其中，多晶硅又可以進(jìn)一步冶煉成單晶硅。工業(yè)硅行業(yè)的上游為化工原料制造業(yè)，主要包括硅塊、熱電、還原劑、石油焦等，行業(yè)下游主要為電子器件、日化產(chǎn)品、光伏、半導(dǎo)體、汽車...
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長知識了!能量色散型 X 熒光光譜儀分析問答答疑解惑
能量色散型X熒光光譜儀分析問答答疑解惑1.什么是X射線熒光分析？答：(1)X射線是一種電磁波，波長比紫外線還要短，為0.001‐10nm左右。X射線照射到物質(zhì)上面以后，從物質(zhì)上主要可以觀測到以下三種X射線。熒光X射線、散射X射線、透過X射線，ESI英飛思NT產(chǎn)品使用的是通過對第一種熒光X射線的測定，從物質(zhì)中獲取元素信息（成分和膜厚）的熒光X射線法原理。物質(zhì)受到X射線的照射時，發(fā)生元素所固有的X射線（固有X射線或者特征X射線）。熒光X射線裝置就是通過對該X射線的檢測而獲取元素信...
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XRF鍍層測厚儀用于涂層測厚元素分析
XRF鍍層測厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進(jìn)行涂層測量的好處準(zhǔn)確的厚度測量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，同時控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產(chǎn)品會增加制造成本?？蛻暨€通過確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來測量涂層，以對進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺EDX8000測厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測試結(jié)果，并且可以通過單點校準(zhǔn)鏡頭來完善結(jié)果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不...
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EDXRF礦石分析儀測試螢石中 CaF2SiO2Fe2O3和 S成分?
EDX9000Bplus礦石分析儀測試螢石中CaF2、SiO2、Fe2O3和S成分?螢石（Fluorite或Fluorspar或Fluor），又稱氟石、砩石，是一種礦物，其主要成分是氟化鈣（CaF2），含雜質(zhì)較多。其中的鈣常被釔和鈰等稀土元素替代，此外還含有少量的Fe2O3、SiO2和微量的Cl、O3和He等。自然界中的螢石常顯鮮艷的顏色，硬度比小刀低[1]。螢石可以用于制備氟化氫：CaF2+H2SO4→CaSO4+2HF[2]；它的色散極低，對紅外線、紫外線的透過性能高，適...
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