及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決古董分析儀故障才能確保其準(zhǔn)確性
2024-11-21
古董分析儀利用光譜分析、X射線熒光（XRF）等技術(shù)，對(duì)古董及藝術(shù)品進(jìn)行非破壞性檢測(cè)，分析其成分、年代及制作工藝。它能夠精確測(cè)量古董中各種元素的含量，如鈉、鎂、鋁、鈣、鐵等，通過比對(duì)數(shù)據(jù)庫中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，判斷古董的真?zhèn)?、年代及產(chǎn)地。古董分析儀在長(zhǎng)時(shí)間使用過程中，可能會(huì)出現(xiàn)故障。以下是...
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能量色散X熒光分析儀在測(cè)量古陶瓷（古董）中的主要元素化學(xué)組成的應(yīng)用
能量色散X熒光分析儀EDX9000plus測(cè)量古陶瓷（古董）中的主要元素化學(xué)組成前言中國(guó)古陶瓷不僅歷史悠久，而且生產(chǎn)地區(qū)廣闊。真是代有名瓷，地有特色。很久以來就吸引著國(guó)內(nèi)外收藏家、觀賞家和各大博物館的高度重視。由于中國(guó)古陶瓷在歷史、文化藝術(shù)和科技上的突出成就，歷來就價(jià)格不菲并出現(xiàn)仿制品，特別是近來利用現(xiàn)代科技手段精仿的各類名瓷更層出不窮。而正是由于如此對(duì)于古陶瓷的科學(xué)分析才有著舉足輕重的意義。一儀器硬件技術(shù)要求1.根據(jù)所測(cè)試的化學(xué)成份元素種類，儀器必須配置抽真空樣品腔2.再者...
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?便攜式X射線熒光光譜合金分析儀測(cè)定銅合金?含量的應(yīng)用分析
?便攜式X射線熒光光譜Compass500合金分析儀測(cè)定銅合金?銅合金概述銅的性能可以擴(kuò)展以適應(yīng)許多工業(yè)應(yīng)用和高科技產(chǎn)品。這是通過合金化過程實(shí)現(xiàn)的：用兩種或多種不同的金屬生產(chǎn)固體材料。通過將銅與其他金屬結(jié)合，可以制造出適合幾乎所有應(yīng)用的一系列銅合金。目前，已知有400多種銅合金，每種都具有的性能組合，可滿足多種應(yīng)用、高質(zhì)量要求、制造工藝和環(huán)境。純銅具有任何商業(yè)金屬中很好的導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性。銅比大多數(shù)金屬更容易形成合金，并與多種合金元素形成以下合金。常見銅合金包括黃銅黃銅是一系列...
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便攜式礦石分析儀真空型礦石成分分析光譜儀?的分析檢測(cè)應(yīng)用
便攜式礦石分析儀Compass-300真空型礦石成分分析光譜儀?X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析技術(shù)是采用現(xiàn)場(chǎng)X射線光譜儀在采樣現(xiàn)場(chǎng)對(duì)待測(cè)目標(biāo)體中元素進(jìn)行快速地定性和定量分析技術(shù),又稱為現(xiàn)場(chǎng)X射線熒光礦石分析儀。根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)分析的應(yīng)用場(chǎng)景與采樣方法,X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析可分為X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)原位分析和X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)取樣分析?，F(xiàn)場(chǎng)原位分析是指將X射線光譜分析儀的探測(cè)窗直接置于巖(礦)石露頭或土壤或其他待測(cè)物料的表面,在現(xiàn)場(chǎng)原生條件下獲取待測(cè)目標(biāo)體中元素種類和元素含量的分析方法;現(xiàn)場(chǎng)取樣分析是指對(duì)待測(cè)...
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XRF熒光光譜元素分析儀常見問題解答-英飛思科學(xué)儀器?
X射線熒光光譜元素分析儀常見問題解答-英飛思科學(xué)儀器?能量色散型X熒光光譜儀分析問答答疑解惑1.什么是X射線熒光分析？答：(1)X射線是一種電磁波，波長(zhǎng)比紫外線還要短，為0.001‐10nm左右。X射線照射到物質(zhì)上面以后，從物質(zhì)上主要可以觀測(cè)到以下三種X射線。熒光X射線、散射X射線、透過X射線，ESI英飛思NT產(chǎn)品使用的是通過對(duì)第一種熒光X射線的測(cè)定，從物質(zhì)中獲取元素信息（成分和膜厚）的熒光X射線法原理。物質(zhì)受到X射線的照射時(shí)，發(fā)生元素所固有的X射線（固有X射線或者特征X射線...
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XRF涂層測(cè)厚儀在涂層分析中的檢測(cè)應(yīng)用
XRF鍍層測(cè)厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進(jìn)行涂層測(cè)量的好處準(zhǔn)確的厚度測(cè)量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，同時(shí)控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產(chǎn)品會(huì)增加制造成本。客戶還通過確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來測(cè)量涂層，以對(duì)進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺(tái)EDX8000測(cè)厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測(cè)試結(jié)果，并且可以通過單點(diǎn)校準(zhǔn)鏡頭來完善結(jié)果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不...
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XRF合金元素分析儀在鋅合金中的檢測(cè)應(yīng)用
XRF熒光光譜EDX9000A?合金分析儀在鋅合金分析中的應(yīng)用EDX9000A合金分析儀配備一個(gè)含35種以上元素的標(biāo)準(zhǔn)包，在幾秒鐘內(nèi)可生成合金的化學(xué)成分和牌號(hào)信息。從簡(jiǎn)單的分揀到具有挑戰(zhàn)性的牌號(hào)區(qū)分，合金分析光譜儀EDX9000A都會(huì)提供高度精細(xì)的材料化學(xué)成分，以快速準(zhǔn)確地辨別純金屬和合金牌號(hào)。這些金屬和合金包含但不限于以下所列項(xiàng)目：鋁合金貴金屬鉻鉬鋼不銹鋼鈷合金工具鋼銅合金鈦合金異常合金鍛鋁合金鎂合金鋅合金鎳合金鋯合金鎳/鈷合金本案我們?cè)赬射線能量色散熒光光譜分析(XRF)...
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XRF熒光光譜儀在金屬鍍層定性定量分析中的檢測(cè)應(yīng)用
XRF熒光膜厚儀鍍層測(cè)厚儀EDX8000B在金屬鍍層定性和定量分析中的應(yīng)用?X射線熒光光譜(XRF)鍍層測(cè)厚儀EDX8000B廣泛應(yīng)用于在鍍層中的定性和定量分析。我們對(duì)檢測(cè)步驟進(jìn)行了測(cè)量和優(yōu)化.該方法采用每個(gè)元素*的特征X射線來確定是否沉積上某種元素;利用FP法快速測(cè)定一組在不同濃度的電解液中電沉積所得鍍層中的銅元素含量,結(jié)果表明該方法可以快速測(cè)定鍍層中元素含量的變化,該方法具有測(cè)試準(zhǔn),投入少,易掌握,速度快等特點(diǎn)X-RAY測(cè)厚儀EDX8000B的基本原理X射線廣泛用于各種無...
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