COMPASS300系列-便攜式XRF熒光光譜元素分析儀

您的移動實驗室現(xiàn)場元素分析測試平臺

固體廢物樣品成分非常復雜，含銅、鎳、鐵、錫等金屬，多以氧化物、氯化物、碳酸鹽等形式存在。傳統(tǒng)的固體廢物中的貴金屬含量的測定方法主要以濕法分析為主，但是由于固體廢物中金等貴重金屬的含量較低同時由于固體廢物的復雜性，導致濕法分析在定量分析的過程中容易受到其它金屬元素的干擾，難以測得固體廢物中貴金屬的準確含量。在使用國家標準物質(zhì)對Compass 300 XRF光譜儀進行標定后，固廢中貴金屬的含量分析達到了理想的結(jié)果。

特點和優(yōu)勢

•Compass 300配備的SDD檢測器優(yōu)勢

>高分辨率：通常優(yōu)于130ev，降低相鄰元素干擾，并提高輕元素檢測效果

>高計數(shù)率：150,000 cps (high count per second)

得到相同的強度，只要普通Si Pin檢測器的0.2~0.05倍的時間，即Si Pin在設定分析時間為100秒的話，對SDD而言，得到相同的強度，只需5~20秒

>高靈敏度：靈敏度提高6-10倍。低背景值，提高元素檢測下限

•便攜，堅固，緊湊的設計，輕松實現(xiàn)現(xiàn)場高精度樣品無損檢測

•可分析各種樣品形態(tài)：包括礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品等

•只需制備少量樣品便可進行無損檢測

•一鍵測試，一鍵打印報告

•可選配大容量電池，無需外部供電情況下可實現(xiàn)長時間工作。

應用領(lǐng)域

>分析礦種

涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等

>勘查

多元素現(xiàn)場快速分析，可廣泛應用于普查、詳查的各個過程，追蹤礦化異常，擴展勘查范圍。可大大減少送回實驗室樣品的數(shù)量，從而節(jié)約運輸和分析費用

>巖芯檢測

快速分析巖芯和和其他鉆探樣品，建立礦山三維圖，分析儲量，可大大提高鉆探現(xiàn)場及時決策效率

>開采過程控制

礦體邊界圈定，礦脈走向判定，對開采過程進行精確管理和控制，對礦石品位進行隨時檢測

>品位控制

對精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進行精確快速分析，為礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價值判斷依據(jù)

>環(huán)境分析

快速對礦石周圍環(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進行分析與檢測，評估礦石環(huán)境修復效果

>石油化工：燃料，潤滑油，添加劑中的硫元素分析，磨損金屬分析

>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等